紅外激光少子壽命測試儀

紅外激光少子壽命指半導體中非平衡少數載流子在紅外激光激發下從產生到復合的平均存活時間。 ?
測試方法
紅外脈沖激光激發半導體材料，通過微波光電導衰減法（ μ-PCD ）檢測電導率變化，從而推算少子壽命。該方法利用紅外激光產生非平衡載流子，微波探測器檢測其發射/反射信號的指數衰減規律，通過擬合信號得出壽命值。

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更新時間：2025-08-09
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少子壽命是半導體材料和器件的重要參數。它直接反映了材料的質量和器件特性。能夠準確的得到這個參數，對于半導體器件制造具有重要意義。

少子壽命指少子的平均生存時間，壽命標志少子濃度減少到原值的1/e所經歷的時間。對太陽能電池來說，少子壽命越短，電池效率越低。

少子，即少數載流子，是半導體物理的概念。它相對于多子而言。

半導體材料中有電子和空穴兩種載流子。如果在半導體材料中某種載流子占少數，導電中起到次要作用，則稱它為少子。如：在N型半導體中，空穴是少數載流子，電子是多數載流子；在P型半導體中，空穴是多數載流子，電子是少數載流子。紅外脈沖激光激發半導體材料，通過微波光電導衰減法（ μ-PCD ）檢測電導率變化，從而推算少子壽命。該方法利用紅外激光產生非平衡載流子，微波探測器檢測其發射/反射信號的指數衰減規律，通過擬合信號得出壽命值。